球形封頭在完成后我們會(huì)進(jìn)行一種叫做無(wú)損檢驗(yàn)的檢驗(yàn)工作，這是球形封頭得以“出師”一道畢竟程序。
    在進(jìn)行無(wú)損檢驗(yàn)時(shí),任何一種檢驗(yàn)方法都不 能100%的檢出缺陷,尤其是對(duì)于一些結(jié)構(gòu)復(fù)雜的工件。但是如果我們認(rèn)真分析,采取一些的措施,可以減少漏檢的可能性。本文所描述的小管射線照相檢驗(yàn)存在一些漏檢區(qū)域,有些是無(wú)法避免的,例如焊縫與母材的結(jié)合處無(wú)法在底片上投影。針對(duì)射線檢驗(yàn)存在的漏檢區(qū)域可以采用其它方法進(jìn)行補(bǔ)充檢驗(yàn),如進(jìn)行UT、MT等。通過(guò)采用其它方法進(jìn)行補(bǔ)充檢驗(yàn)可以盡可能多地發(fā)現(xiàn)一些有危害的缺陷,產(chǎn)品能夠的使用